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OLYMPUS 38DL PLUS超声测厚仪
是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在完全的黑暗中都能具有极佳的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。
OLYMPUS 38DL PLUS超声测厚仪测量功能
穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、最小值/最大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/最小值模式
OLYMPUS 38DL PLUS超声测厚仪性能特点：
可与双晶和单晶探头兼容。
宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
使用双晶探头进行腐蚀测厚。
穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
内部氧化层/沉积物软件选项。
对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
厚度、声速和渡越时间测量。
差分模式和缩减率模式。
时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。
带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
设计符合EN15317标准。
抵御恶劣环境的能力
袖珍型，仅重0.814公斤。
坚固耐用，设计符合IP67标准。
爆炸性气氛：通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试，可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组中定义的爆炸性气氛环境中安全操作。
防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
宽泛的工作温度范围。
带有支架的橡胶保护套。
彩色透反VGA显示，带有室内和户外颜色设置，具有极佳的清晰度。
简便操作的设计理念
可用右手或左手单手操作的简洁的键区。可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。内置和外置MicroSD存储卡。USB和RS-232通讯端口。可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。可连接计算机或显示器的VGA输出。默认或自定义双晶探头设置。默认或自定义单晶探头设置。密码保护功能可以锁住仪器的功能。
数据记录器和PC机接口
带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。
内置存储容量为475000个厚度读数或20000个带有厚度读数的波形。
32位字符的文件名称。
20位字符的ID# (TML#)编码。
9个文件格式：增量型、序列型、带自定义点的序列型、2-D栅格型、带自定义点的2-D栅格型、3-D栅格型、3-D自定义型、锅炉型及手动型。
每个ID# (TML)编码可最多存储4个注释。
注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上。
内置和外置MicroSD存储卡。
可以在内置和外置MicroSD存储卡之间拷贝文件。
标准USB和RS-232通信。
单晶和双晶探头设置的双向传输。
机载统计报告。
机载DB栅格视图，带有3种可编程的颜色。
GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信，可以读取MicroSD存储卡上的数据，还可以在存储卡上写入信息。
可将内部文件以与Excel兼容的CSV（以逗号分隔值）格式直接导出到MicroSD存储卡。
基于Windows的GageView接口程序用于收集、创建、打印及管理来自38DL PLUS测厚仪的数据。
创建数据集和测量总结。
编辑所存数据。
显示数据集和测量总结文件，文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值。
从测厚仪上下载厚度测量总结，或上传厚度测量总结至测厚仪。
将测量总结导出到电子表格及其他程序。
收集捕获的屏幕。
打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告。
升级操作软件。
下载和上传单晶和双晶探头设置文件。
B扫描回顾
技术参数：
双晶探头测量模式 从激励脉冲后的精确延时到第一个回波之间的时间间隔。
穿透涂层测量模式 利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。
穿透漆层回波到回波测量模式 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
单晶探头测量模式 模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。
模式2：延迟线回波与第一个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。
模式3：在激励脉冲之后，位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。
氧化层模式：可选。
多层模式：可选。
厚度范围0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
材料声速范围 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可选择） 低分辨率：0.1毫米
标准分辨率：0.01毫米
高分辨率（可选项）：0.001毫米
探头频率范围 标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）
高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
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